2010国际自动识别技术展会暨2010物联网与产品质量追溯论坛举行
用智慧驾驭未来
纪正昆出席开幕式并参观展会
本报讯 （记者徐 风）11月10日，2010国际自动识别技术展会暨2010物联网与产品质量追溯论坛在北京举行。国家标准委主任纪正昆出席开幕式并参观了展会。
据介绍，本届展会云集了百家国内外著名企业，以“用智慧驾驭未来”为主题，汇集条码、射频、生物识别、图像识别等各种自动识别技术产品及解决方案，展示了自动识别技术的自主创新成果，将推动自动识别技术在我国各领域更广泛、更深入的应用。为了满足行业监管需求，提高企业管理和服务水平，全面推广物品编码与自动识别技术在物联网、产品质量提升工作中的应用，本届展会特别设立了“质量提升年”主题展区和“物联网应用”专题展区。
据了解，条码、射频等自动识别技术在以往的产品质量追溯中发挥了重要的作用，而自动识别技术是物联网的重要技术支撑。2010物联网与产品质量追溯论坛以“物品编码助力产品质量追溯 质量提升服务大质检”为主题，来自全国食品、零售、物流及物联网相关领域的企业、系统集成商及中国物品编码中心分支机构代表，系统地介绍了以商品条码为基础的统一标识系统在我国产品质量追溯中的重要作用，并围绕物联网的发展、产品质量追溯，以及相关技术标准和行业应用等主题进行了深入的探讨。
本次展会和论坛由中国物品编码中心、中国自动识别技术协会主办。国家质检总局、国家标准委、工信部、商务部、国家发改委、科技部等部门派员出席开幕式。中国物流采购联合会、中国食品工业协会、中国连锁经营协会有关领导出席了开幕式。
